本报讯 在中国科学院、中国自然科学基金委员会等单位的大力支持和资助下，由中国科学技术大学和中国科学院高能物理研究所联合主办的第15届X射线吸收精细结构谱学国际会议于7月22日至28日在北京召开。来自境外33个国家和地区的近300位知名专家学者参加了会议，我国大陆参会代表有100余人。会议以大会报告、口头分会报告、墙报、分组讨论等形式，交流了XAFS理论、方法、技术及其应用研究的国际最新成果、未来发展及其新的生长点等。
会议邀请到众多国际一流学者到会并做了34个邀请报告，内容包括自由电子激光技术及其应用、时间分辨XAFS技术及其在动力学研究中的应用、XAFS先进理论、XAFS新技术及其在复杂生物体系中的应用、极端条件体系研究等多个国际研究热点，报道了很多在Science、Nature等顶级学术期刊上发表的成果。我国多位科学家在纳米科技、材料科学、生命科学、催化等领域也获邀做大会报告或分会报告，表明我国在这些领域的研究水平已经达到国际一流水平，并获得国际同行的高度评价。
（国家同步辐射实验室）
